3DIC硅通孔(TSV)检测

信息概要

3DIC硅通孔(TSV)技术是三维集成电路中的关键工艺，通过在硅基板上形成垂直互连通道，实现多层芯片的高密度集成。TSV的检测对于确保信号传输的可靠性、降低功耗以及提高整体芯片性能至关重要。第三方检测机构提供的TSV检测服务能够帮助客户验证工艺质量，识别潜在缺陷，从而优化生产流程并提升产品良率。

TSV检测涵盖从结构完整性到电性能的多维度评估，包括孔形貌、导电性、绝缘层质量等关键参数。通过检测手段，可有效避免因TSV缺陷导致的芯片失效，为3DIC的规模化生产提供技术保障。

检测项目

• TSV孔径尺寸测量
• TSV深度检测
• 孔壁粗糙度分析
• 填充材料均匀性检测
• 导电层厚度测量
• 绝缘层完整性测试
• 界面粘附力评估
• 电阻率测试
• 电容特性分析
• 漏电流检测
• 热稳定性测试
• 机械应力分析
• 电迁移可靠性评估
• 信号传输延迟测试
• 高频特性分析
• 晶圆级翘曲检测
• 缺陷密度统计
• 化学污染物检测
• 热循环可靠性测试
• 湿度敏感性评估

检测范围

• 硅中介层TSV
• 存储器堆叠TSV
• 逻辑芯片TSV
• 射频器件TSV
• 传感器集成TSV
• 光电器件TSV
• 功率器件TSV
• 微机电系统TSV
• 铜填充TSV
• 多晶硅填充TSV
• 钨填充TSV
• 聚合物绝缘TSV
• 氧化物绝缘TSV
• 氮化物绝缘TSV
• 锥形TSV
• 直通孔TSV
• 盲孔TSV
• 高深宽比TSV
• 低电阻TSV
• 高频优化TSV

检测方法

• 扫描电子显微镜(SEM)：高分辨率观测TSV形貌结构
• 聚焦离子束(FIB)：截面制备与局部成分分析
• X射线衍射(XRD)：晶体结构与非破坏性厚度测量
• 原子力显微镜(AFM)：表面粗糙度与三维形貌表征
• 光学轮廓仪：大范围形貌与台阶高度测量
• 四探针测试仪：薄层电阻与电阻率测量
• C-V测试：介电特性与界面态密度分析
• 红外热成像：热分布与缺陷定位
• 超声显微镜：内部缺陷无损检测
• 拉曼光谱：应力分布与材料相变分析
• 二次离子质谱(SIMS)：深度方向元素分布检测
• 电子背散射衍射(EBSD)：晶体取向与应变分析
• 热重分析(TGA)：材料热稳定性测试
• 纳米压痕仪：机械性能与弹性模量测量
• 时域反射仪(TDR)：信号完整性测试

检测仪器

• 场发射扫描电子显微镜
• 双束FIB-SEM系统
• 高分辨率X射线衍射仪
• 原子力显微镜
• 白光干涉仪
• 四探针测试台
• 精密LCR测试仪
• 红外热像仪
• 扫描声学显微镜
• 拉曼光谱仪
• 二次离子质谱仪
• 电子背散射衍射系统
• 热机械分析仪
• 纳米压痕测试仪
• 时域反射计

了解中析

实验室仪器

合作客户